测物基态原子不吸收参比线

粒子散射：一些高浓度的元素，如Ti，Zr，W的氧化物，它们的氧化物具有分馏效应且直径较大，可对光产生散射；有机溶剂的不完全 燃烧产生的微粒碳也会对光产生散射。 消除：更换燃气（如用N2O）；改变测量参数（T，燃助比）；

加入辐射缓冲剂(Radiation buffer。如果知道干扰来源，可在标准液和样品中加入同样且大量的干扰物质)。 

非火焰背景干扰      非火焰的电热原子化（石墨炉）中产生的背景干扰，通常要比火焰原子化的干扰严重。  

采用石墨炉平台技术（Platform technology）、高新石墨材料、快速测光计和Zeeman背景校正等方法可将石墨炉背景干扰降低到和火焰背景干扰相同的水平。 下面将详细讨论几种背景校正方法。

1）邻近线背景校正（The two-line correction method）  参比谱线选择：参比线与测量线很近（保证二者经过的背景一致）

测物基态原子不吸收参比线。

参比线是待测原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。

因为共振线（此时为分析线）的总吸光度AT包括基态原子的吸收A和背景吸收AB，即AT=A+AB  通过测量共振线旁的"邻近线"的吸收，得到AB此时得到净吸收度A=AT-AB   由于很难找到符合上述条件的"邻近线"，故此法应用较少。