测量条件优化

测量条件优化
c)分类:光源调制——磁场加在光源上。因应用较少,此处不作讨论。
吸收线调制——磁场加在原子化器上。可分为恒定磁场和可变磁场。
恒定磁场调制:原子化器中谱线分裂所产生的π线的振动方向始终平行于磁场。
可变磁场调制:原子化器所加磁场的强度可变,即零磁和激磁。但偏振器不旋转,只固定"产生"垂直于磁场方向偏振光。
i)零磁——原子化器中吸收线不分裂,测得A+AB;
ii)激磁——原子化器中吸收线分裂,π线振动方向垂直于偏振光振动方向,只产生背景吸 λ1 λ2 基态原子 背景 AB AT 1为共振线;2为邻近线 收AB;
iii)净吸光度——上述两次测定的差,即为扣除背景后的净吸光度A。
d)Zeeman背景校正的特点 波长范围宽(190~900nm);校正准确度较高,可用于强背景校正(AB可高达1.5~2.0); 与非Zeeman效应扣背景相比,灵敏度略有下降(因为入射线分裂,使其光强下降);仪器价格昂贵。
6.5 原子吸收分析方法
测量条件优化
1. 分析线的选择 通常选共振线(灵敏线或且大多为后线),但不是绝对的。如Hg185nm比Hg254nm灵敏50倍,但前者处于真空紫外区,大气和火焰均对其产生吸收;共振线Ni232nm附近231.98和232.12nm的原子线和231.6nm的离子线,不能将其分开,可选取 341.48nm 作分析线。
此外当待测原子浓度较高时,为避免过度稀释和向试样中引入杂质,可选取次灵敏线!
2. Slit 宽度选择 调节 Slit 宽度,可改变光谱带宽(Δλ=S×D),也可改变照射在检测器上的光强。

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